Аргументы и Факты
tomsk.aif.ru
16+
Томск
Аргументы и Факты
tomsk.aif.ru
16+
Томск
Примерное время чтения: меньше минуты
26

Ученые ТГУ разрабатывают метод выявления дефектов в медицинских имплантах

Томск, 2 октября - Аиф-Томск.

Ученые Томского государственного университета (ТГУ) разрабатывают инновационный метод обнаружения дефектов в полимерных материалах, используемых в медицинских имплантах и промышленности. Как сообщает пресс-служба вуза, метод основан на комбинированном анализе когерентного и некогерентного рассеянного рентгеновского излучения.

«Радиофизики ТГУ разрабатывают новый подход в неразрушающем контроле. Это позволит выявлять мельчайшие дефекты в новых изделиях из полимерных композитов, которые используются в авиа- и машиностроении, медицинских материалах (импланты) и других областях», — отмечается в сообщении. Заведующий лабораторией ТГУ Павел Космачев пояснил, что полимерные композиты сложно исследовать из-за их многокомпонентности и разнородности.

В первый год реализации проекта ученые протестируют методы на основе анализа поглощенного и рассеянного рентгеновского излучений. Следующий этап включает анализ изображений, полученных в режиме фазового контраста. Окончательные результаты исследования будут представлены в конце 2026 года. Разработка позволит повысить качество контроля материалов в различных отраслях промышленности и медицины.

Оцените материал
Оставить комментарий (0)
Подписывайтесь на АиФ в  max MAX

Топ 5 читаемых


Самое интересное в регионах