Ученые Томского государственного университета (ТГУ) разработали математическую модель и программное для контроля качества отечественных элементов, материалов и блоков радиоэлектронной аппаратуры(РЭА). Об этом сообщила пресс-служба вуза.
Нейросеть помогла томским ученым увеличить скорость и точность диагностики.
«Для диагностики радиоэлементов была обучена нейросеть, при этом было использовано 1 500 эталонных и 10 000 дефектных изображений материалов и элементов РЭА», - рассказал руководитель проекта, заведующий международной лабораторией «Системы технического зрения» Научного управления ТГУ Владимир Сырямкин.
Точность диагностики повысило создание цифровых двойников печатных плат, транзисторов, конденсаторов и других объектов диагностики. Их использовали в библиотеке данных при обучении искусственного интеллекта.
На данный момент ИИ способен распознавать изображения разного размера и цвета.
«На этапе тестирования продукта было установлено, что разработанное алгоритмическое и программное обеспечение для контроля и диагностики материалов и элементов РЭА по снимкам цифрового рентгеновского 3D-микротомографа превосходит по точности, помехоустойчивости и быстродействию аналогичные технологии США, Китая, Тайваня и других стран», - отмечается в сообщении.
Разработка уже применяется в промышленности для выявления дефектов радиоэлектронной аппаратуры и другого оборудования. Готовится внедрение результатов проекта на предприятиях Роскосмоса, например, "Информационные спутниковые системы (ИСС)" имени академика М. Ф. Решетнева. Исследование поддержано грантом РНФ.
Подписывайтесь на АиФ в  MAX
|
